EXAFS-спектроскопия - новый метод структурного анализа
Ведринский Р.В.
В статье описывается, как, обрабатывая тонкую структуру рентгеновских спектров поглощения атомов в веществе, можно исследовать ближнее окружение этих атомов и какие новые возможности изучения атомной структуры твердых тел открываются в связи с этим
Kategori:
Tahun:
1996
Bahasa:
russian
Halaman:
6
File:
PDF, 118 KB
IPFS:
,
russian, 1996